哪些因素影響了晶振測試儀的檢測效率

　　晶振測試儀使用微處理器技術，實現了智能化測量。本系列儀器采用倒數計數技術實現等精度測量。它測量精度高，靈敏度高，速度快，閘門時間可選；具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計數等功能；中心頻率（標稱頻率）F0、分檔值Pr1～Pr8(ppm)、上限頻率FU、下限頻率FL可任意設定并能存儲。該機前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業、郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業的生產和科研之用。

　　石英晶振諧振器（簡稱晶振）是為各種振蕩電路或時間電路提供基準工作頻率的電子元件。而在電子技術領域的產品生產過程中，經常要用到一種原材料--晶振振蕩器，產品生產完成后，如果晶振不起振將會影響設計功能的實現，但是，在生產過程中逐個測量晶振頻率所花費的人力物力較大，因此人們設計有晶振測試儀。現有的貼片式晶振測試儀是由振動盤、晶體軌道以及晶體軌道上的檢測機構組合而成的，為使單個晶振依次有序進行檢測，晶體軌道通常設計為僅供單個晶振排序通行，然而在實際使用當中，由于運行偏差，晶振很容易被卡在晶體軌道上，使得測試儀無法正常運轉，影響檢測效率。

　　提供一種晶振測試儀，包括傾斜設置的晶體軌道以及設置在晶體軌道上的檢測裝置和吹料機構；晶體軌道上還設有用于單個晶振依次通行的晶振通槽，晶振通槽的下端與傾斜通槽連通，傾斜通槽的出口與晶振收納室連通；吹料機構的固定座設置在晶體軌道上，固定座上設有吹氣頭，吹氣頭對應晶振通槽位置處設置有吹氣嘴，吹氣頭通過氣管與外部的氣泵連接；檢測裝置相對應位置設置有與晶振通槽交叉連通的分叉通槽，分叉通槽與廢品收集室連通，分叉通槽與晶振通槽相通的一端設置有用于將其開啟或者閉合的閘門，檢測裝置上設有用于將晶振推入分叉通槽的推料機構